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產(chǎn)品展示/ PRODUCTS PLAY

  • DR-H203-100E路由器電路板冷熱沖擊試驗(yàn)箱
    DR-H203-100E路由器電路板冷熱沖擊試驗(yàn)箱 路由器電路板冷熱沖擊試驗(yàn)箱用于模擬路由器電路板在快速溫差變化環(huán)境下的工作表現(xiàn)。通過(guò)快速變化的高溫和低溫,測(cè)試電路板的耐熱、耐寒性能及長(zhǎng)期穩(wěn)定性,確保其在惡劣環(huán)境中不會(huì)發(fā)生故障。主要功能包括:評(píng)估焊接點(diǎn)、元件及電路板材料的可靠性,檢查是否存在熱膨脹引起的裂紋或連接問(wèn)題。測(cè)試的典型溫度范圍為-40°C到90°C,并可設(shè)定溫度變化速率和循環(huán)次數(shù),幫助制造商驗(yàn)證產(chǎn)品的可靠性。
    01

    更新日期

    2024-12-06
    02

    廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)廠家
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  • DR-H203-100D打印機(jī)噴頭冷熱沖擊試驗(yàn)箱
    DR-H203-100D打印機(jī)噴頭冷熱沖擊試驗(yàn)箱 打印機(jī)噴頭冷熱沖擊試驗(yàn)箱是一種用于測(cè)試打印機(jī)噴頭在惡劣溫差變化環(huán)境下的耐受性、可靠性和長(zhǎng)期性能的設(shè)備。由于打印機(jī)噴頭在使用過(guò)程中會(huì)經(jīng)歷不同的溫度環(huán)境,如工作溫度與環(huán)境溫度之間的快速變化,冷熱沖擊試驗(yàn)箱可以模擬這些條件,以確保噴頭在實(shí)際應(yīng)用中不會(huì)因溫度劇烈波動(dòng)而發(fā)生故障或性能下降。
    01

    更新日期

    2024-12-06
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  • DR-H203-100C洗衣機(jī)電機(jī)冷熱沖擊試驗(yàn)箱
    DR-H203-100C洗衣機(jī)電機(jī)冷熱沖擊試驗(yàn)箱 洗衣機(jī)電機(jī)冷熱沖擊試驗(yàn)箱是一種用于測(cè)試洗衣機(jī)電機(jī)在惡劣溫差變化下的耐受能力、性能穩(wěn)定性以及長(zhǎng)期可靠性的設(shè)備。由于洗衣機(jī)電機(jī)通常需要在不同環(huán)境下運(yùn)行,如高溫、低溫或快速溫度波動(dòng)的情況下,冷熱沖擊試驗(yàn)可以模擬這些條件,并評(píng)估電機(jī)在這些環(huán)境下的表現(xiàn)。
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    更新日期

    2024-12-06
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  • DR-H203-100B電視機(jī)顯示屏冷熱沖擊試驗(yàn)箱
    DR-H203-100B電視機(jī)顯示屏冷熱沖擊試驗(yàn)箱 電視機(jī)顯示屏冷熱沖擊試驗(yàn)箱是一種專(zhuān)門(mén)用于測(cè)試電視機(jī)顯示屏(如LCD、LED、OLED等)在快速溫度變化下的可靠性和穩(wěn)定性的設(shè)備。通過(guò)模擬電視機(jī)在惡劣溫差環(huán)境中可能遭遇的冷熱沖擊,評(píng)估其在實(shí)際使用中的耐久性、抗損壞能力以及長(zhǎng)期穩(wěn)定性。
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    更新日期

    2024-12-06
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    廠商性質(zhì)

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  • DR-H203-100A電腦芯片組冷熱沖擊試驗(yàn)箱
    DR-H203-100A電腦芯片組冷熱沖擊試驗(yàn)箱 電腦芯片組冷熱沖擊試驗(yàn)箱是一種專(zhuān)門(mén)用于測(cè)試電腦芯片組在惡劣溫度變化環(huán)境下的可靠性和穩(wěn)定性的設(shè)備。電腦芯片組作為電腦主板上的核心組件,負(fù)責(zé)數(shù)據(jù)傳輸、信號(hào)處理等關(guān)鍵任務(wù),因此其穩(wěn)定性和耐用性至關(guān)重要。在實(shí)際應(yīng)用中,芯片組可能會(huì)遭遇到外部溫度波動(dòng),特別是在筆記本電腦、臺(tái)式機(jī)或服務(wù)器等設(shè)備中。冷熱沖擊試驗(yàn)箱通過(guò)模擬這些溫度劇烈變化的環(huán)境,幫助檢測(cè)芯片組在此類(lèi)環(huán)境下的工作性能及耐久性。
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